IEC 62047-2:2006-08

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Halbleiterbauelemente -

Bauteile der Mikrosystemtechnik Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen

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28.07.2006 Historisch
47/1878/RVD:2006-07

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62047-2:2006-08

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
15.08.2006
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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